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常见原因：PLL phase noise、REFCLK、SSC、power supply noise、crosstalk、reflection或data-dependent jitter

所有preset都差偏向clock／power；仅特定preset差偏向FIR／ISI／reflection。

常见原因

CDR逐渐失锁、DFE／CTLE adaptation漂移、DUT重新EQ、thermal／power noise、SSC／SKP interaction或进入Recovery。

优先动作

同步记录BER timeline、ED CDR／Sync、LTSSM state、DUT Rx status与温度／电源；重复多次确认失效时间分布。

判读方式

失效时间高度固定常见于state／adaptation事件；时间随stress幅度缩短则较像margin threshold。

Sync Loss表示ED pattern synchronization、clock recovery或loopback path已无法维持，严重度高于零星bit error。

常见原因：CDR unlock、DUT离开loopback、LTSSM进Recovery、pattern／SKP处理错误或stress过重。

将所有stress降到最小；监测ED CDR lock与LTSSM；确认pattern、polarity、SKP filtering与loopback mode

常见原因：依优先度：DM-I calibration过重、reference plane错误、DM-I与ISI／RJ／SJ组合过重、Rx CTLE／DFE margin不足、adaptation在DM存在时失稳、CDR受zero-crossing jitter影响、DUT进Recovery、return path／reflection放大stress。

当DM sweep跨过某幅度后fail，便可将问题聚焦在DM calibration、Rx differential-noise tolerance、adaptation与return path。

注意：DM Disable Error Free不能直接证明DUT有缺陷；也可能是stress校准或reference plane使实际DM高于规范。

Gen6不能再只用eye opening判断；SNDR评估noise＋distortion，RLM评估PAM4 level spacing。

常见原因：SNDR：PAM4 DAC／driver nonlinearity、compression、TX EQ saturation、power noise与clock jitter。RLM：level gain mismatch、driver saturation、不同symbol level loading／impedance差异。

判读方式：单一eye特别小多半先查RLM／level linearity；三眼仍开但SNDR低则偏向noise／distortion。

校准会同时受线缆、连接器、温度、示波器noise floor与各impairment交互作用影响。

常见原因：Cable phase drift、connector repeatability、CTLE设定、noise floor、RJ／SJ／DM-I／CM-I组合与量测平均方式。

常见原因：最常见是把总速率当成单一 Lane 速率，选错 PHY／PMD、Lane 数、符号率、Test Mode 或 Pattern。例如同为 400G，可能是 8×50G PAM4，也可能是 4×100G PAM4；两者的规范、Reference Receiver 与限制不同。

常见原因：TX Swing／Termination 设定错误、PAM4 DAC 或 Driver 非线性、P／N 增益不匹配、Driver Saturation、FFE Boost 压缩，或量测点损耗未正确补偿。典型现象是三个 PAM4 Eye 高度明显不均。

某一个 Eye 特别小且随 Swing 增加更严重，通常指向 Level Linearity／Driver Compression，而不是单纯 Random Noise。

常见原因：SNDR 同时把 Noise 与 Distortion 纳入，因此 Eye 看起来有开口并不保证合格。常见来源包含 Driver Nonlinearity、DAC Compression、TX FFE Saturation、Power Supply Noise、Clock Jitter、Crosstalk 与量测系统 Noise Floor。

若降低 Swing 或 FFE Boost 反而改善 SNDR，代表 Distortion／Compression 可能比 Random Noise 更主要；若关闭相邻 Lane 改善，则查 Crosstalk／Power Integrity。

Scope Bandwidth、Sample Rate、Record Length、Acquisition Filter、Clock Recovery／CDR、Reference Receiver Filter、CTLE／FFE、Noise Correction 与软件版本不一致。Compliance 量测是『模型化 Reference Receiver』，不是只看原始眼图。

先用同一份 Waveform Offline Analysis；若结果仍不同，差异多半在算法／版本。若 Offline 一致、实时量测不同，则查 Acquisition Path。

常见原因：PLL／Reference Clock Phase Noise、Duty-Cycle Distortion、SSC 设定、Power Noise、P／N Rise／Fall 不对称、Package／Channel Reflection、FFE 不当与 Crosstalk 都可能造成。PAM4 Transition 类型更多，对 Timing Asymmetry 更敏感。

所有 Pattern／Preset 都差：偏向 Clock／Power；只在特定 Pattern 或 EQ 变差：偏向 ISI／Reflection／FFE；只在相邻 Lane 活动时变差：偏向 Crosstalk。

常见差异包括标准／Compliance Software Revision、Scope 校正状态、Cable／Fixture S-parameter、Connector Torque、Reference Plane、Acquisition Setup、温度、DUT Firmware、Pattern 与测试时间。Margin 很小时，微小差异就会翻转 Pass／Fail。

若结果差异落在量测不确定度或接近 Limit，应视为设计 Margin 不足；若差异很大，通常是架构选错、Reference Plane 或软件设定不一致。