现今各种信息产品功能不断提升，传输速度也越来越快，对于相关测试的质量和效率都提升了更高的挑战，测试的规格要求变得更加复杂严谨，需要考虑更多因素和情境，然而对于开发或生产的时程却不断被压缩，厂商需要在更短的时间内，完成更多工作。因此要如何在有限的时间内，有效地完成所有测试、确保测试的准确性和可靠性，便成为重要且迫切的课题。
你还在进行人力测试吗？潜在风险不可不慎
当前的产品都具有多种复合式的功能，因此其验证测试也变得更复杂，若是只依靠人为的操作测试，将可能面临操作不当产生失误，或测项漏测等风险，同时测试的速度也无法有效提升。
除了产品功能复杂化外，高频或高速的特性也是一大考验，许多高频及高速的产品人力无法进行测试，或是人力测试将会耗费大量时间，而人力的测试也可能导致结果的不一致性。百佳泰针对上述的潜在风险，开发出适合各种接口的治具以及自动化解决方案，将能让厂商有效省下时间及精力，并使产品质量更精良。
自动化克服测试难题
【1】USB-C® – Tx & Long Channel Rx Precet. Test Fixture
执行Intel USB-C 3.1 Tx测试需要使用两个不同的治具，个别对应UFP和DFP，但最令人困扰的是往往用几个月就坏了，也无法维修。但百佳泰所研发的Pre-Cert治具，将两片的功能整合，只要简单的切换，不须一直交换治具，不仅大幅降低损坏机率，也使测试更省时有效率。
【2】 PCIe®自动化量测系统(APMS)
百佳泰提供业界专属研发的PCIe自动化量测系统 (Allion PCIe Multiport System，APMS)，可大幅加速PCIe量测时间并缩短周期，提升了测量设备的生产力和周转率。APMS自动化量测系统的特性如下：
- 比手动测试快5倍的速度，可以节省80%的时间，除了节省设备及人力成本外，在time to market上也能更有竞争力。
- 具有8 lanes Tx/Rx 自动切换，无需手动置换Cable及Terminator，可避免每次换lane时的开关电源，节省时间并降低插拔损耗
- 可灵活的配置选择。 Generation, Lane and Preset mode都可以依需求勾选
- 一致性有质量的量测结果，避免人为失误而产生的结果误差
- 除待测物为系统端外，亦可客制化开发装置端的量测
Faster， Easier， Better！百佳泰治具服务
百佳泰具有设计经验丰富的RD团队，能以高频、自动化及客制化为基础，协助客户制作符合需求的治具，达到以下目的
Faster：自动化的设计使测试速度加快，可将测试时间延长到全天。
Easier：客制化的设计使客户在操作使用上更是简易便捷。
Better：以高频、自动化及客制化为基础制作的治具能减少人为疏失，得到正确的结果。
百佳泰专属开发、获多项技术协会认可，成为认证指定测试治具。无论是高频量测还是自动化治具，皆能针对各项标准或是特殊规格，提供客制化治具设计服务，更累积多达百件以上的高频治具设计案量及经验，让您开发验证事半功倍！
若您对于客制化治具及自动化解决方案相关的顾问服务有进一步需求，欢迎与我们联系，百佳泰服务团队将诚挚为您服务！
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